Á lódáil...

Random testing of digital circuits: theory and applications

Sonraí Bibleagrafaíochta
Príomhúdar:	David, Rene; Author
Formáid:	Printed Book
Foilsithe:	New York, Marcel Dekker 1998
Ábhair:	Digital integrated circuits; Testing

Sonraí sealbhúcháin ó MG University
Gairmuimhir:	621.381 5 N8
Cóip	Live Status Unavailable

Míreanna Comhchosúla