Lataa...

Random testing of digital circuits: theory and applications

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	David, Rene; Author
Aineistotyyppi:	Printed Book
Julkaistu:	New York, Marcel Dekker 1998
Aiheet:	Digital integrated circuits; Testing

Saatavuus: MG University
Hyllypaikka:	621.381 5 N8
Nide	Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa

Samankaltaisia teoksia