Lanean...

Random testing of digital circuits: theory and applications

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: David, Rene; Author
Formatua: Printed Book
Argitaratua: New York, Marcel Dekker 1998
Gaiak:

MG University

Aleari buruzko argibideak MG University
Sailkapena: 621.381 5 N8
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri