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Random testing of digital circuits: theory and applications

Detalles Bibliográficos
Autor principal: David, Rene; Author
Formato: Printed Book
Publicado: New York, Marcel Dekker 1998
Materias:

MG University

Detalle de Existencias desde MG University
Número de Clasificación: 621.381 5 N8
Copia Estatus de actividad no disponible