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Random testing of digital circuits: theory and applications
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Printed Book |
| Veröffentlicht: |
New York, Marcel Dekker
1998
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| Schlagworte: |
MG University
| Signatur: |
621.381 5 N8 |
|---|---|
| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |