Načítá se...

Random testing of digital circuits: theory and applications

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	David, Rene; Author
Médium:	Printed Book
Vydáno:	New York, Marcel Dekker 1998
Témata:	Digital integrated circuits; Testing

Informace o exemplářích z: MG University
Signatura:	621.381 5 N8
Jednotka	Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky