تحميل...

Random testing of digital circuits: theory and applications

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	David, Rene; Author
التنسيق:	Printed Book
منشور في:	New York, Marcel Dekker 1998
الموضوعات:	Digital integrated circuits; Testing

تفاصيل المقتنيات من MG University
رقم الطلب:	621.381 5 N8
النسخة	الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة