Random testing of digital circuits: theory and applications

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: David, Rene; Author
Format: Printed Book
Veröffentlicht: New York, Marcel Dekker 1998
Schlagworte:
Digital integrated circuits; Testing
Beschreibung
Beschreibung:Includes index
Rene David
ISBN:0-8247-0182-8

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