טוען...

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Goldstein, Joseph I
פורמט:	Printed Book
יצא לאור:	New York: Springer, 2018.
מהדורה:	4th ed.
נושאים:	Scanning electron microscopy X-ray microanalysis
גישה מקוונת:	https://books.google.co.in/books?id=wq7eBwAAQBAJ&printsec=frontcover&dq=9781493966745&hl=en&sa=X&ved=0ahUKEwiyl83ci97gAhVMRo8KHeVEDOEQ6AEIKDAA#v=onepage&q&f=false

פרטי מלאי ספרים מ MG University
סימן המיקום:	570.282 5 Q8
עותק	סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים