Chargement en cours...

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Détails bibliographiques
Auteur principal: Goldstein, Joseph I
Format: Printed Book
Publié: New York: Springer, 2018.
Édition:4th ed.
Sujets:
Accès en ligne:https://books.google.co.in/books?id=wq7eBwAAQBAJ&printsec=frontcover&dq=9781493966745&hl=en&sa=X&ved=0ahUKEwiyl83ci97gAhVMRo8KHeVEDOEQ6AEIKDAA#v=onepage&q&f=false
LEADER 00812nam a22001815i 4500
999 |c 158313  |d 158309 
020 |a 9781493966745 
082 |a 570.282 5  |b Q8 
100 1 |a Goldstein, Joseph I  |9 90558 
245 1 0 |a Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /  |c Joseph I Goldstein...[et al.] 
250 |a 4th ed. 
260 |a New York:  |b Springer,  |c 2018. 
300 |a 550 p. 
650 |a Scanning electron microscopy  |9 90559 
650 |a X-ray microanalysis  |9 90560 
856 |u https://books.google.co.in/books?id=wq7eBwAAQBAJ&printsec=frontcover&dq=9781493966745&hl=en&sa=X&ved=0ahUKEwiyl83ci97gAhVMRo8KHeVEDOEQ6AEIKDAA#v=onepage&q&f=false 
942 |c BK 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 570_282000000000000_5_Q8  |7 0  |9 156770  |a MGUL  |b MGUL  |c GEN  |d 2018-05-22  |e Current Books  |g 8419.16  |l 0  |o 570.282 5 Q8  |p 59612  |r 2018-05-22  |w 2018-05-22  |y BK