Joan edukira
VuFind
Hizkuntza
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Electron beam analysis of mate...
Erreferentzia bihurtu
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
permanent_link
Lanean...
Electron beam analysis of materials
other_versions_link
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:
Loretto, M H
Formatua:
Printed Book
Argitaratua:
London, Chapman and Hall
1984
Gaiak:
Electron Beam Instruments
Electron Microscopy
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
other_versions_title
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
MG University
Aleari buruzko argibideak MG University
Sailkapena:
620.112 M4
Alea
Egoera zuzenean ez dago erabilgarri
Antzeko izenburuak
Electron beam and laser beam technology,
nork: Marton, L., ed
Argitaratua: (1968)
Defect Analysis in Electron Microscopy
nork: Loretto,M.H
Argitaratua: (1975)
Electron beam technology /
nork: Schiller, Siegfried
Argitaratua: (1982)
Electron Beam Analysis of Materials
nork: Loretto,M.H
Argitaratua: (1984)
Proceedings of symposium on electron beam technology and applications (SEBTA 2000):Mumbai: 22-24 November, 2000
Argitaratua: (2000)
Lanean...