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Defect Analysis in Electron Microscopy

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Loretto,M.H
Outros Autores: R.E.Smallman
Formato: Printed Book
Publicado em: London Champan&Hall 1975
Assuntos:

MG University

Detalhes do Exemplar MG University
Área/Cota: 548.84 LOR
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