Načítá se...

Defect Analysis in Electron Microscopy

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Loretto,M.H
Další autoři: R.E.Smallman
Médium: Printed Book
Vydáno: London Champan&Hall 1975
Témata:

MG University

Informace o exemplářích z: MG University
Signatura: 548.84 LOR
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost