Lanean...

Defect Analysis in Electron Microscopy

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Loretto,M.H
Beste egile batzuk: R.E.Smallman
Formatua: Printed Book
Argitaratua: London Champan&Hall 1975
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:ix,134
ISBN:047054760X