טוען...

Micro and nano mechanicalTesting of materials and devices /

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Li, James C.M, Yang, Fuqian
פורמט: Printed Book
יצא לאור: New York: Springer, 2008
נושאים:

Kannur University

פרטי מלאי ספרים מ Kannur University
סימן המיקום: 621.381 MIC
עותק Stack סטטוס עדכני לא זמין