Lataa...

Micro and nano mechanicalTesting of materials and devices /

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Li, James C.M, Yang, Fuqian
Aineistotyyppi: Printed Book
Julkaistu: New York: Springer, 2008
Aiheet:

Kannur University

Saatavuus: Kannur University
Hyllypaikka: 621.381 MIC
Nide Stack Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa