Načítá se...

Micro and nano mechanicalTesting of materials and devices /

Podrobná bibliografie
Další autoři: Li, James C.M, Yang, Fuqian
Médium: Printed Book
Vydáno: New York: Springer, 2008
Témata:

Kannur University

Informace o exemplářích z: Kannur University
Signatura: 621.381 MIC
Jednotka Stack Neznámá aktuální dostupnost