Ładuje się......

Basics of X-ray diffraction and its applications /

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Hebbar,, K. Ramakanth
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New Delhi: I. K. International, 2007.
Hasła przedmiotowe:
Opis
Wydane:2007.
Opis fizyczny:257p..