Ładuje się......

Stochastic models in reliability

Opis bibliograficzny
1. autor: Aven, Terje
Kolejni autorzy: Jensen, Uwe
Format: Printed Book
Wydane: New York Springer 1999
Seria:Applocations of mathematics
Hasła przedmiotowe:

Kannur University

Szczegóły zapisu Kannur University
Sygnatura: 620.00452 AVE/S
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana