Loading...

Microscopy of materials; Modern Imageing methods usign electron x-ray and ion beams

Bibliographic Details
Main Author: Bowen, D K
Format: Printed Book
Language:English
Published: London Macmillan 1975
Subjects:
LEADER 01073nam a2200253 a 4500
001 adlib96000001
003 ViArRB
005 20151026130603.0
008 960221s1955 dcuabcdjdbkoqu001 0deng d
020
022
040 |a Adlib 
082 |a 537.333.35 
245 |a Microscopy of materials; Modern Imageing methods usign electron x-ray and ion beams 
250
260 |a London  |b Macmillan  |c 1975 
300 |a ix, 304 p. 
500 |a   
100 |a Bowen, D K 
700
942 |c BK  |6 _ 
653 |a Electricity  |a Electronics  |a Amplifiers- electronics  |a Cybernetics  |a digital electronics  |a Electric conductors  |a Electronic circuits  |a Semiconductors  |a Superconductors  |a Transistors  |a Microelectronics  |a Semiconductor  |a Engineering  |a Technology  |a Physics  |a Optics  |a Biophysics  |a Astrophysics  |a Nuclear physics  |a Radioactivity  |a Quantum theory  |a Mechanics  |a Hydrostatics  |a Thermodynamics  |a Science  |a Chemistry  |a Electronics and electricity 
999 |c 8424  |d 8424 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 53733335_BOW  |7 0  |9 19838  |a UL  |b UL  |d 2010-06-16  |o 537.333.35 BOW  |p 00009511  |r 2010-06-16  |w 2010-06-16  |y BK