Ładuje się......

Multiple beam interferometry of surfaces and films

Opis bibliograficzny
1. autor: Tolansky, S
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York Dover 1970
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 535.41 TOL
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana