טוען...
Multiple beam interferometry of surfaces and films
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
New York
Dover
1970
|
| נושאים: |
interference
> Analysis, spectrum
> Spectra
> Spectrochemistry
> Spectroscopy
> Mass spectroscopy
> NMR spectroscopy
> IR spectroscopy
> Infrared spectroscopy
> nmr
> Optics
> Astrophysics
> Chemistry
> Radiation
> Light
> Photometry
> Optics
> Colour
> Optical storage devices
> Spectrum analysis
> Phosphoresence
> Spectroscopy
> Physics
> Optical physics
|
UL
| סימן המיקום: |
535.41 TOL |
|---|---|
| עותק | סטטוס עדכני לא זמין |