Lataa...

Multiple beam interferometry of surfaces and films

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Tolansky, S
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: New York Dover 1970
Aiheet:

UL

Saatavuus: UL
Hyllypaikka: 535.41 TOL
Nide Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa