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Multiple beam interferometry of surfaces and films

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tolansky, S
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: New York Dover 1970
Materias:

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 535.41 TOL
Copia Estatus de actividad no disponible