Načítá se...

Multiple beam interferometry of surfaces and films

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Tolansky, S
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York Dover 1970
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 535.41 TOL
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost