טוען...
Multiple beam interferometry of surfaces and films
| מחבר ראשי: | Tolansky, S |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
New York
Dover
1970
|
| נושאים: |
interference
> Analysis, spectrum
> Spectra
> Spectrochemistry
> Spectroscopy
> Mass spectroscopy
> NMR spectroscopy
> IR spectroscopy
> Infrared spectroscopy
> nmr
> Optics
> Astrophysics
> Chemistry
> Radiation
> Light
> Photometry
> Optics
> Colour
> Optical storage devices
> Spectrum analysis
> Phosphoresence
> Spectroscopy
> Physics
> Optical physics
|
פריטים דומים
-
Interferometry
מאת: Steel, W H
יצא לאור: (1967) -
Holographic interferometry
מאת: Vest, Charles M
יצא לאור: (1979) -
Proceedings: Beam-foil spectroscopy
מאת: Martinson, I
יצא לאור: (1970) -
Self focussing of laser beams, in dialectrics, plasmas and semiconductors
מאת: Hendzel, Kevin S
יצא לאור: (1974) -
Electron spectroscopy for surface analysis
מאת: Ibach, H
יצא לאור: (1977)