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Multiple beam interferometry of surfaces and films
| 1. Verfasser: | Tolansky, S |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York
Dover
1970
|
| Schlagworte: |
interference
> Analysis, spectrum
> Spectra
> Spectrochemistry
> Spectroscopy
> Mass spectroscopy
> NMR spectroscopy
> IR spectroscopy
> Infrared spectroscopy
> nmr
> Optics
> Astrophysics
> Chemistry
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> Spectrum analysis
> Phosphoresence
> Spectroscopy
> Physics
> Optical physics
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