Tolansky, S. (1970). Multiple beam interferometry of surfaces and films. Dover.
Styl ChicagoTolansky, S. Multiple Beam Interferometry of Surfaces and Films. New York: Dover, 1970.
Citace podle MLATolansky, S. Multiple Beam Interferometry of Surfaces and Films. Dover, 1970.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..