Tolansky, S. (1970). Multiple beam interferometry of surfaces and films. Dover.
استشهاد بنمط شيكاغوTolansky, S. Multiple Beam Interferometry of Surfaces and Films. New York: Dover, 1970.
MLA استشهادTolansky, S. Multiple Beam Interferometry of Surfaces and Films. Dover, 1970.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.