טוען...
Novel application of anomalous (resonance) x-ray scattering for structural characterization disordered materials
מחבר ראשי: | |
---|---|
פורמט: | Printed Book |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Berlin
Springer-Verlag
1984
|
נושאים: |
UL
סימן המיקום: |
530.162:535.329 WAS |
---|---|
עותק | סטטוס עדכני לא זמין |