טוען...
Novel application of anomalous (resonance) x-ray scattering for structural characterization disordered materials
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Berlin
Springer-Verlag
1984
|
| נושאים: |
UL
| סימן המיקום: |
530.162:535.329 WAS |
|---|---|
| עותק | סטטוס עדכני לא זמין |