Đang tải...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
Tác giả chính: | |
---|---|
Định dạng: | Ph.D Thesis |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
Những chủ đề: |
UL
Số hiệu: |
535.8 PAU |
---|---|
Sao chép | Trạng thái trực tiếp không khả dụng |