Đang tải...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Paulraj, M.
Định dạng: Ph.D Thesis
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Những chủ đề:

UL

Chi tiết quỹ từ UL
Số hiệu: 535.8 PAU
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng