Yüklüyor......

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Paulraj, M.
Materyal Türü: Ph.D Thesis
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Konular:

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Yer Numarası: 535.8 PAU
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.