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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Ph.D Thesis |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Assuntos: |
UL
| Área/Cota: |
535.8 PAU |
|---|---|
| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |