Ładuje się......

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Opis bibliograficzny
1. autor: Paulraj, M.
Format: Ph.D Thesis
Język:English
Wydane: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 535.8 PAU
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana