Wordt geladen...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
Hoofdauteur: | |
---|---|
Formaat: | Ph.D Thesis |
Taal: | English |
Gepubliceerd in: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
Onderwerpen: |
UL
Plaatsingsnummer: |
535.8 PAU |
---|---|
Kopie | Status is onbeschikbaar |