Wordt geladen...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Paulraj, M.
Formaat: Ph.D Thesis
Taal:English
Gepubliceerd in: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Onderwerpen:

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 535.8 PAU
Kopie Status is onbeschikbaar