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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Paulraj, M.
Natura: Ph.D Thesis
Lingua:English
Pubblicazione: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Soggetti:

UL

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Collocazione: 535.8 PAU
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