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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
Autore principale: | |
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Natura: | Ph.D Thesis |
Lingua: | English |
Pubblicazione: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
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Soggetti: |
UL
Collocazione: |
535.8 PAU |
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Copia | Status in tempo reale non disponibile |