Φορτώνει......

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Paulraj, M.
Μορφή: Ph.D Thesis
Γλώσσα:English
Έκδοση: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Θέματα:

UL

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από UL
Ταξιθετικός Αριθμός: 535.8 PAU
Αντίγραφο Η τρέχουσα κατάσταση είναι άγνωστη