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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Paulraj, M.
Format: Ph.D Thesis
Sprache:English
Veröffentlicht: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Schlagworte:

UL

Bestandesangaben von UL
Signatur: 535.8 PAU
Exemplar Live-Status nicht verfügbar