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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
1. Verfasser: | |
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Format: | Ph.D Thesis |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
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Schlagworte: |
UL
Signatur: |
535.8 PAU |
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Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |