Loading...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Paulraj, M.
Format: Ph.D Thesis
Sprog:English
Udgivet: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Fag:

UL

Detaljer om beholdninger fra UL
Klassifikationsnummer: 535.8 PAU
Kopi Live Status Unavailable