Llwytho...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Paulraj, M.
Fformat: Ph.D Thesis
Iaith:English
Cyhoeddwyd: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Pynciau:

UL

Manylion daliadau o UL
Rhif Galw: 535.8 PAU
Copi Nid yw'r Statws Byw ar Gael