Načítá se...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Paulraj, M.
Médium: Ph.D Thesis
Jazyk:English
Vydáno: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 535.8 PAU
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost