Načítá se...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
Hlavní autor: | |
---|---|
Médium: | Ph.D Thesis |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
Témata: |
UL
Signatura: |
535.8 PAU |
---|---|
Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |