تحميل...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Paulraj, M.
التنسيق: Ph.D Thesis
اللغة:English
منشور في: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
الموضوعات:

UL

تفاصيل المقتنيات من UL
رقم الطلب: 535.8 PAU
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة