Lanean...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Paulraj, M.
Formatua: Ph.D Thesis
Hizkuntza:English
Argitaratua: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Gaiak:

Antzeko izenburuak