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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Ph.D Thesis |
| 语言: | English |
| 出版: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
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| 主题: |
UL
| 索引号: |
535.8 PAU |
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| 复印件 | Live Status Unavailable |