Wordt geladen...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Ph.D Thesis |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Onderwerpen: |
UL
| Plaatsingsnummer: |
535.8 PAU |
|---|---|
| Kopie | Status is onbeschikbaar |