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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Ph.D Thesis |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
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| Soggetti: |
UL
| Collocazione: |
535.8 PAU |
|---|---|
| Copia | Status in tempo reale non disponibile |