Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Paulraj, M.
פורמט: Ph.D Thesis
שפה:English
יצא לאור: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
נושאים:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 535.8 PAU
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים