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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Ph.D Thesis |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Schlagworte: |
UL
| Signatur: |
535.8 PAU |
|---|---|
| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |