Načítá se...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Ph.D Thesis |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Témata: |
UL
| Signatura: |
535.8 PAU |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |